100CR X射線光譜儀探測(cè)器

 
光譜儀探測(cè)器
美國(guó)AMPTEK/XR-100CR/XR-100CR是一種新的高性能X射線探測(cè)器，包括前置放大器和制冷系統(tǒng)，通過(guò)熱電法冷卻的Si-PIN光電二極管作為X射線探測(cè)器。在二級(jí)制冷系統(tǒng)上還裝有輸入場(chǎng)效應(yīng)管和一個(gè)新型的反饋電路。這些組件大約-55的環(huán)境下工作，其溫度由一個(gè)內(nèi)置的溫度傳感器控制。探測(cè)器的密封TO-8包裝有一個(gè)缽薄膜窗口，用于軟X射線探測(cè)。XR-100T-CdTe 代表在X-射線探測(cè)器技術(shù)的一個(gè)突破，可提供"現(xiàn)成的"結(jié)果，而以前則只能從昂貴的低溫冷卻系統(tǒng)得到。另外XR-100T-CdTe還適用于伽馬射線的測(cè)量。XR-100CR硅PIN探測(cè)器/XR-100SDD硅漂移X射線探測(cè)器/XR-100T碲化鎘X射線和伽馬射線探測(cè)器/X-123SIN/X-123SDD/X-123CdTe型X射線光譜儀/多道處理器/閃爍體探測(cè)器
 X射線熒光
 ROHS/WEEE標(biāo)準(zhǔn)
 便攜式儀器
 原始設(shè)備制造
 核醫(yī)學(xué)成像
 教學(xué)研究文物考古
 程控
 穆斯堡爾譜儀
 空間物理和天文學(xué)
 環(huán)境X射線檢測(cè)
 有毒物垃圾場(chǎng)監(jiān)測(cè)
 粒子誘發(fā)X射線熒光分析
 XR-100CR
    ◇149eV的分辨率，全固態(tài)無(wú)液氮設(shè)計(jì)
    ◇SI-PIN光敏二極管，二級(jí)熱電冷卻器
    ◇內(nèi)置溫度控制監(jiān)測(cè)檢測(cè)器，密封的鈹檢測(cè)窗
    ◇檢測(cè)范圍廣，操作簡(jiǎn)單
 XR-100SDD
    ◇高計(jì)數(shù)率——5000，000 CPS
    ◇對(duì)峰值5.9keV的分辨率為139eV
    ◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1
    ◇規(guī)格為：7 mm2 * 500 µm
    ◇無(wú)液氮
 XR-100CdTe
    ◇CdTe二極管探測(cè)器，熱電冷卻器（Peltier）
    ◇FET冷卻
    ◇鈹檢測(cè)窗，密封包裝（TO-8）
 AXAS 系統(tǒng)
    AXAS系統(tǒng)集成了記錄計(jì)數(shù)率在1.000.000 計(jì)數(shù)/s以上的超快MCA和SDD （硅漂泊二極管）。利用MCDWIN MCA 軟件，AXASMCA可以成為非常小的*分光計(jì)，從而使獲取光譜變得很容易。它還可以通過(guò)USB接口讀取數(shù)據(jù)，因此該系統(tǒng)可以通過(guò)便攜式計(jì)算機(jī)在任何地點(diǎn)工作。
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100CR X射線光譜儀探測(cè)器詳細(xì)參數(shù)
探測(cè)器類型：硅針探測(cè)器（Si-PIN）
探測(cè)器尺寸：5 mm2---25 mm2
硅厚度：300µm，500µm，680µm
能量分辨率（5.9kev,55Fe）:半峰寬145eV-230eV(取決于探測(cè)器種類和形成時(shí)間常數(shù))
背景記數(shù)：<3*10-3/s,2KeV-150KeV(針對(duì)7mm2/300um探測(cè)器)
探測(cè)器鈹窗厚度：1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)
電荷敏感前置放大器：用戶定制設(shè)計(jì)
增益穩(wěn)定性：<20PPM/（典型）
尺寸：3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)
重量：139克
總功率：<1瓦
器件壽命：5-10年
操作環(huán)境：0-40
認(rèn)證：TUV
前置放大器功率：正負(fù)8-9V，15mV(不超過(guò)50mV的蜂噪音)
探測(cè)器功率： 100V-200V，1µA（取決與探測(cè)器類型），非常穩(wěn)定，偏差<0.1%
制冷器功率：電流zui大值為350mA,電壓zui大值為4V（峰噪音<100mV,）
前置放大器靈敏度：典型值1mV/KeV(對(duì)于不同的探測(cè)器可能有差異)
前置放大器極性：負(fù)信號(hào)輸出（zui大負(fù)載1K歐姆）
前置放大器反饋：通過(guò)探測(cè)器電容進(jìn)行重置
溫度靈敏度：PX4通過(guò)軟件直接讀取開(kāi)爾文溫度